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東洋経済オンライン「共通テスト後、受験生が陥る「腑抜け症候群」の怖さ」

カルペ・ディエム代表取締役社長、西岡壱誠の記事が東洋経済オンラインに掲載されました。

共通テスト後、受験生が陥る「腑抜け症候群」の怖さ〜ここで「一息つく」と不合格の可能性が高まる訳〜
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